介質損耗測試儀廠商是發電(dian)(dian)(dian)廠、變電(dian)(dian)(dian)站等現場或實驗室測試各種高壓電(dian)(dian)(dian)力設備介(jie)損(sun)正切值及電(dian)(dian)(dian)容量的高精度測試儀器(qi)。儀器(qi)為一體化結構(gou)，內(nei)置介(jie)損(sun)測試電(dian)(dian)(dian)橋，可變頻(pin)調壓電(dian)(dian)(dian)源，升壓變壓器(qi)和SF6 高(gao)穩(wen)定度標準(zhun)電容器(qi)。測(ce)試高(gao)壓(ya)源由儀器(qi)內部的逆變器(qi)產生，經變壓(ya)器(qi)升壓(ya)后用于被試品測(ce)試。頻率可變為(wei)45Hz或(huo)55Hz，55Hz或65Hz，采(cai)用數字陷波技術，避開了(le)工頻電(dian)(dian)場(chang)對測試(shi)的干擾，從根本上解決了(le)強電(dian)(dian)場(chang)干擾下準確(que)測量的難(nan)題。同時適(shi)用于全部停電(dian)(dian)后用發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)檢測的場(chang)合。

介質損耗測試儀廠商特(te)點(dian)：

超大液晶中文(wen)顯示

儀器配(pei)備了大(da)屏幕（105mm×65mm）中(zhong)文菜(cai)單(dan)界(jie)面，屏顯分(fen)為左右(you)兩部分(fen)，左邊(bian)為功能(neng)菜(cai)單(dan)區，右(you)邊(bian)為相關狀態信息提示，每一(yi)步都非(fei)常(chang)清楚，操作人員(yuan)不需要專業培訓就能(neng)使用。一(yi)次操作，微機自動完成全過(guo)程的測(ce)量，是目前非(fei)常(chang)理想(xiang)的介損(sun)測(ce)量設(she)備。

海量(liang)存儲數據

儀器內部配備有(you)日歷(li)芯片和(he)大容(rong)量存儲器，能將檢測(ce)結(jie)果按(an)時間(jian)順序保存，隨(sui)時可以(yi)查看歷(li)史記錄(lu)，并可以(yi)打印(yin)輸出；

科(ke)學*數據管(guan)理(li)

儀器數據可以(yi)通過U盤導出，可(ke)在任意一臺PC機上通過(guo)我公司軟(ruan)件(jian)，查看和管理數據并可生成工作報告。

多種測試(shi)模(mo)式

儀器能夠分別使用內(nei)高(gao)壓(ya)、外(wai)高(gao)壓(ya)、內(nei)標準(zhun)、外(wai)標準(zhun)、正接(jie)法、反(fan)接(jie)法、自激法等多種方式(shi)測試；在外(wai)標準(zhun)外(wai)高(gao)壓(ya)情況下可以做高(gao)電壓(ya)（大于(yu)10kV）介質損耗(hao)。

多重保(bao)護安全可靠

儀(yi)器(qi)具備輸入電壓波動(dong)、輸出短路、過(guo)壓、過(guo)流、溫(wen)度等多重保(bao)護措施(shi)，保(bao)證(zheng)了儀(yi)器(qi)安全、可靠。儀(yi)器(qi)還具備接地(di)檢(jian)測功能，確(que)保(bao)不(bu)接地(di)設備不(bu)允(yun)許升壓。

工(gong)作(zuo)原理

在(zai)交(jiao)流電(dian)壓作(zuo)用下，電(dian)介質(zhi)要消耗(hao)部分電(dian)能，這部分電(dian)能將轉變(bian)為熱(re)能產生損(sun)耗(hao)。這種能量(liang)損(sun)耗(hao)叫做電(dian)介質(zhi)的損(sun)耗(hao)。當電(dian)介質(zhi)上施加交(jiao)流電(dian)壓時，電(dian)介質(zhi)中的電(dian)壓和電(dian)流間成(cheng)在(zai)相(xiang)角差(cha)ψ，ψ的余角δ稱(cheng)為介質(zhi)損(sun)耗(hao)角，δ的正切tgδ稱為介質損(sun)耗角正切。tgδ值是用來(lai)衡(heng)量電介質損耗的參數(shu)。儀器測量線路包括一標準(zhun)回(hui)路（Cn）和(he)一被(bei)試回路(Cx)，如(ru)圖2—1所示。標準回路由(you)內置高穩(wen)定度(du)標準電容器與測量(liang)線路組成，被(bei)試回路由(you)被(bei)試品和(he)測量(liang)線路組成。測量(liang)線路由(you)取樣電阻與前置放大器和(he)A/D轉(zhuan)換器組成。通(tong)過測(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)(dian)路(lu)分(fen)別(bie)測(ce)(ce)得(de)標準回(hui)路(lu)電(dian)(dian)(dian)流與被試回(hui)路(lu)電(dian)(dian)(dian)流幅(fu)值(zhi)及其(qi)相位差，再由數(shu)字(zi)信號處理器運(yun)(yun)用(yong)數(shu)字(zi)化(hua)實時采(cai)集方法，通(tong)過矢量(liang)運(yun)(yun)算得(de)出試品的電(dian)(dian)(dian)容值(zhi)和介質損耗正切值(zhi)。儀器內部(bu)已經采(cai)用(yong)了(le)抗干擾措施，保證在外電(dian)(dian)(dian)場干擾下(xia)準確測(ce)(ce)量(liang)。

主要技術參數