介質損耗測試儀廠家是發電(dian)廠(chang)、變(bian)電(dian)站等(deng)現場或實驗(yan)室測(ce)(ce)試各(ge)種高壓電(dian)力(li)設備介損正切值及電(dian)容(rong)量(liang)的高精度測(ce)(ce)試儀器(qi)(qi)。儀器(qi)(qi)為(wei)一體(ti)化結構，內置介損測(ce)(ce)試電(dian)橋，可變(bian)頻調壓電(dian)源，升壓變(bian)壓器(qi)(qi)和SF6 高穩(wen)定(ding)度標準電容器。測(ce)試高壓(ya)源(yuan)由儀器內部的逆變器產生，經變壓(ya)器升(sheng)壓(ya)后用(yong)于(yu)被試品測(ce)試。頻(pin)率可變為45Hz或55Hz，55Hz或(huo)65Hz，采用數字陷波(bo)技術，避開了工(gong)頻電(dian)(dian)場(chang)對測(ce)試的干擾，從根本上解(jie)決了強電(dian)(dian)場(chang)干擾下準(zhun)確測(ce)量的難(nan)題。同時適(shi)用于全(quan)部停(ting)電(dian)(dian)后用發電(dian)(dian)機供電(dian)(dian)檢測(ce)的場(chang)合。

介質損耗測試儀廠家特點：

超大液晶中(zhong)文顯示

儀器配(pei)備了(le)大屏幕(mu)（105mm×65mm）中文(wen)菜單界(jie)面，屏(ping)顯分為左右(you)兩(liang)部分，左邊為功(gong)能菜單區(qu)，右(you)邊為相關狀(zhuang)態(tai)信息提示(shi)，每一步都非(fei)常清楚，操(cao)作人員不需要(yao)專業培訓就能使用。一次操(cao)作，微機自(zi)動完成全過程(cheng)的測量(liang)，是目前非(fei)常理(li)想的介損測量(liang)設備。

海量存儲(chu)數據

儀器(qi)內部配(pei)備有日歷芯片和大(da)容量存儲器(qi)，能(neng)將(jiang)檢測結果按時間順序保存，隨時可以(yi)查看歷史記錄，并(bing)可以(yi)打印輸出；

科學(xue)*數據管理

儀(yi)器數據可(ke)以通過U盤導出，可(ke)在任(ren)意一臺PC機上通過我公司(si)軟件，查看和管理數據并可生成工作報告。

多種測(ce)試模式

儀器(qi)能夠分別使用內(nei)高壓、外高壓、內(nei)標(biao)準、外標(biao)準、正接法、反接法、自激法等多種(zhong)方式測試；在外標(biao)準外高壓情況下可以做(zuo)高電壓（大于(yu)10kV）介質損耗。

多重保護安全可靠

儀(yi)器(qi)具(ju)(ju)備(bei)(bei)輸(shu)入電(dian)壓(ya)波動(dong)、輸(shu)出(chu)短路、過壓(ya)、過流、溫度等多(duo)重保(bao)護措(cuo)施，保(bao)證了儀(yi)器(qi)安(an)全(quan)、可(ke)靠。儀(yi)器(qi)還具(ju)(ju)備(bei)(bei)接地(di)檢測功能，確保(bao)不接地(di)設(she)備(bei)(bei)不允許(xu)升(sheng)壓(ya)。

工作原理(li)

在(zai)交流電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓作用下，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)要消耗部分電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)，這部分電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)將轉變(bian)為(wei)熱(re)能(neng)產生(sheng)損耗。這種能(neng)量損耗叫(jiao)做(zuo)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)的損耗。當電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)上施加交流電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓時(shi)，電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質(zhi)中(zhong)的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流間(jian)成在(zai)相角差ψ，ψ的余角δ稱為(wei)介(jie)質(zhi)損耗角，δ的正切tgδ稱為介(jie)質損(sun)耗角正切。tgδ值(zhi)是(shi)用來衡量電介質損耗的參數。儀器測量線路(lu)包(bao)括(kuo)一(yi)標準回路(lu)（Cn）和(he)一被(bei)試(shi)回(hui)路(Cx)，如(ru)圖2—1所示。標(biao)準回路(lu)(lu)由內(nei)置高穩(wen)定度標(biao)準電(dian)容器(qi)與測(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)路(lu)(lu)組成，被(bei)試回路(lu)(lu)由被(bei)試品和測(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)路(lu)(lu)組成。測(ce)(ce)(ce)量(liang)線(xian)路(lu)(lu)由取(qu)樣電(dian)阻與前置放大器(qi)和A/D轉(zhuan)換器組成。通過(guo)測(ce)量(liang)電(dian)路(lu)分(fen)別(bie)測(ce)得(de)標準回路(lu)電(dian)流(liu)與被(bei)試(shi)回路(lu)電(dian)流(liu)幅值(zhi)及(ji)其相位差，再由(you)數(shu)字(zi)(zi)信號處(chu)理器運(yun)用數(shu)字(zi)(zi)化實時采集(ji)方(fang)法，通過(guo)矢量(liang)運(yun)算(suan)得(de)出(chu)試(shi)品的(de)電(dian)容值(zhi)和介(jie)質損耗正切值(zhi)。儀器內部已經采用了(le)抗干擾(rao)措施，保證在外電(dian)場干擾(rao)下準確測(ce)量(liang)。

主(zhu)要(yao)技術參數(shu)