介質損耗測量儀廠家是發電(dian)廠、變電(dian)站(zhan)等(deng)現場或(huo)實驗(yan)室測試各種高壓電(dian)力設(she)備介損正切(qie)值及電(dian)容(rong)量的(de)高精度測試儀(yi)器。儀(yi)器為一體化結構，內置介損測試電(dian)橋，可變頻調壓電(dian)源(yuan)，升壓變壓器和SF6 高穩定度(du)標準電(dian)容器。測試高壓(ya)源(yuan)由儀器內(nei)部的逆變(bian)器產生，經變(bian)壓(ya)器升壓(ya)后(hou)用于被(bei)試品測試。頻(pin)率可變(bian)為45Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用(yong)(yong)數(shu)字陷波技(ji)術，避開了工(gong)頻電(dian)場對測(ce)試(shi)的(de)干(gan)擾，從根本(ben)上解決了強(qiang)電(dian)場干(gan)擾下(xia)準確測(ce)量的(de)難題。同時(shi)適用(yong)(yong)于全部(bu)停(ting)電(dian)后(hou)用(yong)(yong)發電(dian)機供(gong)電(dian)檢測(ce)的(de)場合。

介質損耗測量儀廠家特點：

超大液晶中文顯示

儀器(qi)配備(bei)了大屏(ping)幕（105mm×65mm）中文菜單界面，屏顯分(fen)(fen)為左右(you)兩部(bu)分(fen)(fen)，左邊為功能菜單區，右(you)邊為相關狀態信息提示，每(mei)一步(bu)都非常(chang)清楚，操(cao)作人員不需要專(zhuan)業培訓就能使用。一次操(cao)作，微機自(zi)動完成(cheng)全過程的測(ce)量，是目前非常(chang)理想(xiang)的介損測(ce)量設備(bei)。

海量存(cun)儲數(shu)據

儀器內部配備有(you)日歷芯片和大容(rong)量(liang)存(cun)儲器，能將(jiang)檢測結果按(an)時間順序保存(cun)，隨時可以查(cha)看歷史記錄，并可以打(da)印輸出(chu)；

科學(xue)*數據管(guan)理(li)

儀器數據可(ke)以通過(guo)U盤導出，可在任意一臺PC機上通過我(wo)公司軟件，查看和管(guan)理(li)數(shu)據并可生成工作報告。

多種測試模式

儀(yi)器能(neng)夠(gou)分別使用內高(gao)(gao)壓、外(wai)高(gao)(gao)壓、內標(biao)準(zhun)、外(wai)標(biao)準(zhun)、正接法、反(fan)接法、自激法等多種方式測試；在外(wai)標(biao)準(zhun)外(wai)高(gao)(gao)壓情(qing)況下可以做高(gao)(gao)電壓（大于10kV）介質(zhi)損(sun)耗。

多重保護安全可靠(kao)

儀(yi)器(qi)具備(bei)輸入(ru)電壓波動、輸出短路、過壓、過流、溫度等多(duo)重保護(hu)措施，保證了(le)儀(yi)器(qi)安全、可靠。儀(yi)器(qi)還具備(bei)接地檢測功能，確(que)保不接地設備(bei)不允許升壓。

工作(zuo)原理

在交(jiao)流(liu)電(dian)壓作(zuo)用下，電(dian)介質(zhi)(zhi)要消耗部(bu)分電(dian)能，這部(bu)分電(dian)能將轉變(bian)為熱能產(chan)生損(sun)(sun)耗。這種(zhong)能量損(sun)(sun)耗叫做電(dian)介質(zhi)(zhi)的(de)損(sun)(sun)耗。當(dang)電(dian)介質(zhi)(zhi)上施加交(jiao)流(liu)電(dian)壓時，電(dian)介質(zhi)(zhi)中的(de)電(dian)壓和電(dian)流(liu)間成(cheng)在相角差ψ，ψ的(de)余(yu)角δ稱為介質(zhi)(zhi)損(sun)(sun)耗角，δ的(de)正切tgδ稱為介質損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質損耗的參(can)數。儀(yi)器測量線(xian)路包(bao)括(kuo)一標準回路（Cn）和一(yi)被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標準(zhun)回路(lu)由(you)內(nei)置高穩定(ding)度標準(zhun)電容器與測(ce)量線路(lu)組成(cheng)，被(bei)試回路(lu)由(you)被(bei)試品和(he)測(ce)量線路(lu)組成(cheng)。測(ce)量線路(lu)由(you)取樣(yang)電阻與前置放大器和(he)A/D轉換器(qi)組成。通(tong)過(guo)測量電(dian)路分別測得標準(zhun)(zhun)回路電(dian)流(liu)與被(bei)試(shi)回路電(dian)流(liu)幅值及其相位差，再由數字(zi)信號處(chu)理器(qi)運(yun)用數字(zi)化(hua)實(shi)時采集方法(fa)，通(tong)過(guo)矢(shi)量運(yun)算(suan)得出試(shi)品的(de)電(dian)容(rong)值和介(jie)質損耗正切值。儀(yi)器(qi)內部已經采用了抗干(gan)(gan)擾措(cuo)施，保證在(zai)外電(dian)場干(gan)(gan)擾下(xia)準(zhun)(zhun)確(que)測量。

主要技術(shu)參數